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手機可靠性測試標準分享
日期：2024-10-23 13:36
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摘要：
手機行業(yè)可靠性檢測是不可少的，那么手機可靠性測試有哪些項目標準呢，下面有弘寶技術(shù)部對手機可靠性測試標準分享
1、 目的 此可靠性測試標準的目的是盡可能的挖掘設計、制造過程中潛在的問題，在正式投產(chǎn)之前找到改善的方法并解決上述問題點，為正式生產(chǎn)在產(chǎn)品質(zhì)量上作必要的保證；并檢測產(chǎn)品是否具備設計上的成熟性，使用上的可靠性。具體包括新產(chǎn)品的實驗，物料的實驗以及例行抽檢實驗等。
2、 適用范圍 此標準只適合輝燁通訊技術(shù)有限公司生產(chǎn)的移動通訊產(chǎn)品。
3、 可靠性測試項目及方法
3.1 高溫儲存試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下存儲的適應性。 試驗設備：恒溫恒濕試驗箱 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，不插SIM卡關(guān)機狀態(tài) 以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到70±2℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)48小時。持續(xù)期滿后將試驗樣機在正常大氣條件下放置2小時，之后對試驗樣機進行試驗后檢查。 判定標準：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.2 低溫儲存試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下存儲的適應性。
試驗設備：恒溫恒濕試驗箱 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機（需包裝）帶電池及電池后蓋，不插SIM 卡關(guān)機狀態(tài)以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到-20±3℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)48小時。持續(xù)期滿后將試驗樣機在正常大氣條件下放置2小時，之后對試驗樣機進行試驗后檢查。 判定標準：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.3 高溫工作試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用的適應性 試驗設備：恒溫恒濕試驗箱 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上SIM卡及T卡， 處于待機狀態(tài)（滑/翻蓋處于打開狀態(tài)），以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到55±2℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)8小時。持續(xù)期滿后立即對測試樣機進行試驗后檢查。 判定標準：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.4 低溫工作試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下使用的適應性 試驗設備：恒溫恒濕試驗箱 試驗樣機：2~4PCS
試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上SIM卡及T卡， 處于待機狀態(tài)（滑/翻蓋處于打開狀態(tài)），以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到-20±3℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)8小時。持續(xù)期滿后立即對測試樣機進行試驗后檢查。 判定標準：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.5 滑蓋壽命試驗 試驗目的：驗證機殼材料、FPC、滑軌的壽命以及滑蓋組件結(jié)構(gòu) 的配合壽命。 試驗設備：滑蓋壽命測試機 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上SIM卡，處于待 機狀態(tài)；以25~35次/分的速度滑動滑蓋，來回為一次；要求滑蓋須達到*大活動位置及*小活動位置；每2萬次進行外觀功能全檢。試驗總數(shù)為10萬次（出貨為6萬次）。 判定標準：滑蓋壽命至少10萬次；外觀和結(jié)構(gòu)正常，未有明顯 的裂紋/破損；無明顯異常響聲；允許打開時有阻滯感，打開滑蓋后整個滑蓋組件可前后左右輕微晃動；必須通過基本功能測試。
3.6 翻蓋壽命試驗 試驗目的：驗證機殼材料、FPC、轉(zhuǎn)軸的壽命以及翻蓋組件結(jié)構(gòu)
的配合壽命。 試驗設備：翻蓋壽命測試機 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上SIM卡，處于待 機狀態(tài)；以25~35次/分的速度翻動翻蓋，來回為一次；要求翻蓋須達到*大活動位置；每2萬次進行外觀功能全檢。試驗總數(shù)為10萬次（出貨為6萬次）。 判定標準：翻蓋壽命至少10萬次；外觀和結(jié)構(gòu)正常，未有明顯 的裂紋/破損；無明顯異常響聲；允許打開時有阻滯感，打開翻蓋后整個翻蓋組件可前后左右輕微晃動；必須通過基本功能測試。手機可靠性測試標準分享
3.7 靜電放電抗擾度試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品的抗靜電性能 試驗設備：靜電儀、綜測儀 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：
1）試驗環(huán)境為溫度15 ~35ºC；濕度30~60%RH
2）試驗時要求手機處于開機充電通話狀態(tài)，在正負 電壓、帶與不帶充電器、翻/滑蓋閉合與滑開幾種狀態(tài)下試驗。
3）對于裸露在機身表面的金屬部分使用接觸放電， 其他區(qū)域則使用空氣放電；每個測試點放電10次為一組，共進行兩組。
4）空氣放電標準為±8KV；接觸放電標準為±4KV。
5）試驗完畢檢查手機的各項基本功能，并進行電性 能檢查。 判定標準：樣機出現(xiàn)功能暫時性（失效時間大于3秒）或長久 性失效（故障不恢復）判為不合格。樣機出現(xiàn)閃屏或3秒內(nèi)可自行恢復之故障判為合格。 樣機出現(xiàn)射頻對比測試數(shù)據(jù)異常（接收報告電平與 功率相差大于3）判為不合格。樣機出現(xiàn)嚴重外觀**(如鏡片及裝飾牌等嚴重掉漆)，應判定為不合格。
3.8 10㎝裸機微跌試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品在使用中產(chǎn)生輕微撞擊的適應性。 試驗設備：手機跌落測試機 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機插SIM卡開機，翻/滑蓋機閉合狀態(tài)；跌落 面為鋁板；跌落高度為10㎝；跌落方式：樣機6個面每面跌落500次為一循環(huán)，共4個循環(huán)；每完成一個循環(huán)檢查一次試驗樣機的外觀及基本功能；測試速度為15次/分； 判定標準：通過基本功能測試，未有明顯的裂紋/破損，內(nèi)部無 零件松動或異常。
3.9 1m裸機跌落試驗
試驗目的：檢驗產(chǎn)品多次跌落的適應性 試驗設備：手機跌落測試機 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機插SIM卡處于通電待機狀態(tài)，從1m高度（如 果LCM面積超過手機表面積60%，跌落高度為50㎝），初速度為0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6個面，每個面跌落2次，共12次（翻蓋機型增加跌翻蓋打開2面，8個面共16次）；試驗結(jié)束對試驗樣機進行**檢測。 判定標準：通過基本功能測試，未有明顯的裂紋/破損，內(nèi)部無 零件松動或異常。
3.10 1.5m裸機跌落試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品多次跌落的適應性 試驗設備：手機跌落測試機 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機插SIM卡處于通電待機狀態(tài)，從1.5m高度 （如果LCM面積超過手機表面積60%，跌落高度為75㎝），初速度為0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6個面，每個面跌落2次，共12次（翻蓋機型增加跌翻蓋打開2面，8個面共16次）；試驗結(jié)束對試驗樣機進行**檢測。 判定標準：通過基本功能測試，未有明顯的裂紋/破損，內(nèi)部無零件松動或異常。以上就是手機可靠性測試標準分享
1、 目的 此可靠性測試標準的目的是盡可能的挖掘設計、制造過程中潛在的問題，在正式投產(chǎn)之前找到改善的方法并解決上述問題點，為正式生產(chǎn)在產(chǎn)品質(zhì)量上作必要的保證；并檢測產(chǎn)品是否具備設計上的成熟性，使用上的可靠性。具體包括新產(chǎn)品的實驗，物料的實驗以及例行抽檢實驗等。
2、 適用范圍 此標準只適合輝燁通訊技術(shù)有限公司生產(chǎn)的移動通訊產(chǎn)品。
3、 可靠性測試項目及方法
3.1 高溫儲存試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下存儲的適應性。 試驗設備：恒溫恒濕試驗箱 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，不插SIM卡關(guān)機狀態(tài) 以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到70±2℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)48小時。持續(xù)期滿后將試驗樣機在正常大氣條件下放置2小時，之后對試驗樣機進行試驗后檢查。 判定標準：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.2 低溫儲存試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下存儲的適應性。
試驗設備：恒溫恒濕試驗箱 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機（需包裝）帶電池及電池后蓋，不插SIM 卡關(guān)機狀態(tài)以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到-20±3℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)48小時。持續(xù)期滿后將試驗樣機在正常大氣條件下放置2小時，之后對試驗樣機進行試驗后檢查。 判定標準：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.3 高溫工作試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用的適應性 試驗設備：恒溫恒濕試驗箱 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上SIM卡及T卡， 處于待機狀態(tài)（滑/翻蓋處于打開狀態(tài)），以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到55±2℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)8小時。持續(xù)期滿后立即對測試樣機進行試驗后檢查。 判定標準：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.4 低溫工作試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品在低溫環(huán)境條件下使用的適應性 試驗設備：恒溫恒濕試驗箱 試驗樣機：2~4PCS
試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上SIM卡及T卡， 處于待機狀態(tài)（滑/翻蓋處于打開狀態(tài)），以正常位置放進試驗箱內(nèi)。使試驗箱在30分鐘內(nèi)溫度達到-20±3℃，溫度穩(wěn)定后持續(xù)8小時。持續(xù)期滿后立即對測試樣機進行試驗后檢查。 判定標準：通過基本功能測試，外觀及結(jié)構(gòu)正常。
3.5 滑蓋壽命試驗 試驗目的：驗證機殼材料、FPC、滑軌的壽命以及滑蓋組件結(jié)構(gòu) 的配合壽命。 試驗設備：滑蓋壽命測試機 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上SIM卡，處于待 機狀態(tài)；以25~35次/分的速度滑動滑蓋，來回為一次；要求滑蓋須達到*大活動位置及*小活動位置；每2萬次進行外觀功能全檢。試驗總數(shù)為10萬次（出貨為6萬次）。 判定標準：滑蓋壽命至少10萬次；外觀和結(jié)構(gòu)正常，未有明顯 的裂紋/破損；無明顯異常響聲；允許打開時有阻滯感，打開滑蓋后整個滑蓋組件可前后左右輕微晃動；必須通過基本功能測試。
3.6 翻蓋壽命試驗 試驗目的：驗證機殼材料、FPC、轉(zhuǎn)軸的壽命以及翻蓋組件結(jié)構(gòu)
的配合壽命。 試驗設備：翻蓋壽命測試機 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機帶電池及電池后蓋，插上SIM卡，處于待 機狀態(tài)；以25~35次/分的速度翻動翻蓋，來回為一次；要求翻蓋須達到*大活動位置；每2萬次進行外觀功能全檢。試驗總數(shù)為10萬次（出貨為6萬次）。 判定標準：翻蓋壽命至少10萬次；外觀和結(jié)構(gòu)正常，未有明顯 的裂紋/破損；無明顯異常響聲；允許打開時有阻滯感，打開翻蓋后整個翻蓋組件可前后左右輕微晃動；必須通過基本功能測試。手機可靠性測試標準分享
3.7 靜電放電抗擾度試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品的抗靜電性能 試驗設備：靜電儀、綜測儀 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：
1）試驗環(huán)境為溫度15 ~35ºC；濕度30~60%RH
2）試驗時要求手機處于開機充電通話狀態(tài)，在正負 電壓、帶與不帶充電器、翻/滑蓋閉合與滑開幾種狀態(tài)下試驗。
3）對于裸露在機身表面的金屬部分使用接觸放電， 其他區(qū)域則使用空氣放電；每個測試點放電10次為一組，共進行兩組。
4）空氣放電標準為±8KV；接觸放電標準為±4KV。
5）試驗完畢檢查手機的各項基本功能，并進行電性 能檢查。 判定標準：樣機出現(xiàn)功能暫時性（失效時間大于3秒）或長久 性失效（故障不恢復）判為不合格。樣機出現(xiàn)閃屏或3秒內(nèi)可自行恢復之故障判為合格。 樣機出現(xiàn)射頻對比測試數(shù)據(jù)異常（接收報告電平與 功率相差大于3）判為不合格。樣機出現(xiàn)嚴重外觀**(如鏡片及裝飾牌等嚴重掉漆)，應判定為不合格。
3.8 10㎝裸機微跌試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品在使用中產(chǎn)生輕微撞擊的適應性。 試驗設備：手機跌落測試機 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機插SIM卡開機，翻/滑蓋機閉合狀態(tài)；跌落 面為鋁板；跌落高度為10㎝；跌落方式：樣機6個面每面跌落500次為一循環(huán)，共4個循環(huán)；每完成一個循環(huán)檢查一次試驗樣機的外觀及基本功能；測試速度為15次/分； 判定標準：通過基本功能測試，未有明顯的裂紋/破損，內(nèi)部無 零件松動或異常。
3.9 1m裸機跌落試驗
試驗目的：檢驗產(chǎn)品多次跌落的適應性 試驗設備：手機跌落測試機 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機插SIM卡處于通電待機狀態(tài)，從1m高度（如 果LCM面積超過手機表面積60%，跌落高度為50㎝），初速度為0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6個面，每個面跌落2次，共12次（翻蓋機型增加跌翻蓋打開2面，8個面共16次）；試驗結(jié)束對試驗樣機進行**檢測。 判定標準：通過基本功能測試，未有明顯的裂紋/破損，內(nèi)部無 零件松動或異常。
3.10 1.5m裸機跌落試驗 試驗目的：檢驗產(chǎn)品多次跌落的適應性 試驗設備：手機跌落測試機 試驗樣機：2~4PCS 試驗內(nèi)容：試驗樣機插SIM卡處于通電待機狀態(tài)，從1.5m高度 （如果LCM面積超過手機表面積60%，跌落高度為75㎝），初速度為0并自由跌落于光滑混凝土地面上；6個面，每個面跌落2次，共12次（翻蓋機型增加跌翻蓋打開2面，8個面共16次）；試驗結(jié)束對試驗樣機進行**檢測。 判定標準：通過基本功能測試，未有明顯的裂紋/破損，內(nèi)部無零件松動或異常。以上就是手機可靠性測試標準分享
